老化測試主要是模擬產品在現實使用過程中的各種惡劣條件的高強度測試，同時根據使用的要求，合理地預測產品使用壽命，高溫老化測試也就是用來確定產品在高溫氣候環境條件下儲存、運輸、使用的適應性。試驗的嚴苛程度取決于高溫的溫度和曝露持續時間。

高溫老化測試標準

GB/T 2423.2，IEC 60068-2-2，IEIA 364， MIL-STD-810F等。

高溫老化測試的目的
高溫老化測試是針對高性能電子產品（如：計算機整機，車用電子產品，電源供應器，主機板、監視器等）模擬高溫、惡劣環境的可靠性測試，是提高產品穩定性、可靠性的重要手段、是各生產企業提高產品質量和競爭性的重要生產流程。

高溫老化測試判定標準
1、升溫時間的測試
將溫度傳感器置于高溫老化試驗箱工作空間內任意一點，用全功率加熱，記錄工作室溫度從室溫升至第一次達到最高工作溫度的時間，其結果應不超過120min。
2.表面溫度測試
在高溫老化試驗箱工作溫度第一次達到最高工作溫度并穩定2h后，用溫度計測試箱體表面的溫度，其最高工作溫度不超過200℃的試驗箱，表面溫度應不大于室溫加35℃；最高工作溫度超過200℃，表面溫度應按式決定。
3.絕緣電阻測試
應按GB998中第6.2條規定方法進行測試，其結果應符合電加熱器端子（包括引線）與控制系統開路時，對箱殼應承受電壓1500V，交流50H，歷時1min的絕緣強度試驗，其絕緣應不被擊穿。
4、絕緣強度試驗
應按GB998中第6.3條規定進行試驗，試驗結果符合電加熱器端子（包括引線）與控制系統開路時，對箱殼應承受電壓1500V，交流50H，歷時lmin的絕緣強度試驗，其絕緣應不被擊穿。
5、噪聲測試
按ZBNG61012中規定方法進行測試，其結果整機噪聲不高干70dB。
經過特定的試驗條件的高溫老化后，再對老化對象進行電氣參數測量，篩選、剔除變質或失效的元器件，盡可能把產品的早期失效消滅在正常使用之前。這種為提高電子電工產品可靠性和延長產品使用壽命，對產品的穩定性進行必要的考核，以便剔除那些有“早逝”缺陷的潛在“個體”（元器件）確保整機品質和期望壽命的工藝就是高溫老化的原理。